联特科技取得误码分析光模块测试技术专利，该技术可实现高效率的光模块性能分析

admin 2025-02-04 共101人围观，发现79个评论

金融界2023年11月17日消息，据国家知识产权局公告，武汉联特科技股份有限公司取得一项名为“具有误码分析功能的光模块测试装置、系统及方法“，公开号CN117081670A，专利申请日期为2023年11月。

专利摘要显示，本发明公开了一种具有误码分析功能的光模块测试装置、方法及系统，该具有误码分析功能的光模块测试装置包括电源电路、主控模块、信号处理模块以及用于连接待测模块的第一接口和用于连接光源的第二接口，电源电路用于给整个装置供电，信号处理模块的LINE侧的第一TX端、第一RX端与第一接口连接，主控模块与信号处理模块连接。