测试挑战
材料pA、fA级漏电流和材料绝缘电阻(TΩ)测试结果不稳定、可靠。
测试描述新材料创新、研发是当今世界高科技领域较量的热点之一。大到飞机、火箭、高铁、汽车;小到功率开关、存储芯片、柔性显示屏、电池等。而评估材料特性的表征参数有很多、如高低温、压强、高压、大电流等,这里我们讨论的是材料的绝缘或者漏电流的测量。

我们先看看电流或电阻的刻度坐标,根据欧姆定律:,如果施加1V电压、则1G电阻上流过的电流为1nA,如果要获得1pA的电流,则电阻需要1T;反之亦然,要测量1T电阻值,如果电压仍然1V,则测量电流仅1pA。所以,绝缘电阻测试的核心是微小电流的测量。
有相关经历的工程师应该都能感受到精确、稳定、可靠的测量低至pA、fA级别电流是非常困难的!难点包括测量仪表、测试治具的材料和连接线缆、外界噪声的屏蔽等。
测量结果针对微电流的测试,B2981A/B2983A皮安/飞安表、具有61/2位数和0.01fA分辨。而B2985A/B2987A除了微电流测量外,配合高达1000V的电压激励,可实现高达10P电阻测量。
另外,由于以上所述很难判断微电流测量的稳定和可靠性,B2980系列添加了滚动模式(测试随时间波动)和统计分布功能(直方图和标准差σ)。



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